本书主要内容提示
《单块微电路可靠性手册》——微电路可靠性领域的权威指南
《单块微电路可靠性手册》是一本在微电路可靠性领域具有广泛影响力的专业书籍，该书由我国著名的微电路可靠性专家张晓辉教授撰写，由科学出版社于2018年出版。
张晓辉教授长期从事微电路可靠性研究，具有丰富的实践经验和深厚的理论基础，他在本书中系统地介绍了微电路可靠性的基本概念、分析方法、设计原则以及在实际应用中的注意事项。
作者：张晓辉
出版社：科学出版社
出版时间：2018年
《单块微电路可靠性手册》旨在为微电路可靠性领域的工程师、研究人员和学者提供一本全面、实用的参考书籍，本书共分为九章，涵盖了微电路可靠性的各个方面。
第一章介绍了微电路可靠性的基本概念、意义和重要性，第二章详细阐述了微电路可靠性的分析方法，包括故障树分析、可靠性建模和仿真等，第三章和第四章分别介绍了微电路可靠性设计原则和设计方法，包括电路设计、器件选择和热设计等，第五章和第六章重点介绍了微电路可靠性测试与评估方法，包括加速寿命测试、失效分析等，第七章至第九章分别针对不同类型的微电路，如集成电路、混合集成电路和光电子集成电路等，介绍了其可靠性设计、测试与评估方法。
1、微电路可靠性的基本概念、意义和重要性
2、微电路可靠性的分析方法
- 故障树分析
- 可靠性建模和仿真
3、微电路可靠性设计原则和设计方法
- 电路设计
- 器件选择
- 热设计
4、微电路可靠性测试与评估方法
- 加速寿命测试
- 失效分析
5、集成电路可靠性设计、测试与评估方法
6、混合集成电路可靠性设计、测试与评估方法
7、光电子集成电路可靠性设计、测试与评估方法
8、微电路可靠性设计实例分析
9、微电路可靠性发展趋势与展望
《单块微电路可靠性手册》是一本内容丰富、实用性强、具有较高参考价值的书籍，它为微电路可靠性领域的从业人员提供了宝贵的理论指导和实践经验，有助于提高我国微电路可靠性研究水平。