本书主要内容提示
《材料的透射电子显微术：揭示微观世界的奥秘》
作者：张三
出版社：科学出版社
出版时间：2022年1月
《材料的透射电子显微术：揭示微观世界的奥秘》是一本系统介绍透射电子显微术（Transmission Electron Microscopy，简称TEM）的专著，该书由我国著名材料科学家张三教授撰写，旨在为广大材料科学工作者、研究生以及相关领域的科研人员提供一本全面、实用的TEM研究指南。
本书共分为九章，内容涵盖了TEM的基本原理、仪器设备、样品制备、图像分析、应用领域等多个方面。
第一章：引言
本章简要介绍了TEM的发展历程、研究意义以及在材料科学领域的应用。
第二章：TEM基本原理
本章详细阐述了TEM的工作原理、成像原理以及成像过程。
第三章：TEM仪器设备
本章介绍了TEM的基本结构、主要部件以及性能指标。
第四章：样品制备
本章介绍了TEM样品的制备方法、注意事项以及样品制备过程中的常见问题。
第五章：图像分析
本章详细讲解了TEM图像的获取、处理和分析方法，包括图像增强、图像分割、图像识别等。
第六章：TEM在材料科学中的应用
本章介绍了TEM在材料科学领域的应用，包括晶体结构分析、缺陷分析、纳米材料研究等。
第七章：TEM与其他分析技术的结合
本章介绍了TEM与其他分析技术（如X射线衍射、能谱分析等）的结合，以及其在材料科学研究中的应用。
第八章：TEM样品制备技术进展
本章介绍了TEM样品制备技术的最新进展，包括冷冻断层扫描、纳米切割等技术。
第九章：TEM在生物材料研究中的应用
本章介绍了TEM在生物材料研究中的应用，包括细胞器结构分析、组织工程等。
《材料的透射电子显微术：揭示微观世界的奥秘》一书全面、系统地介绍了TEM的基本原理、仪器设备、样品制备、图像分析以及应用领域，该书内容丰富、实用性强，对于广大材料科学工作者、研究生以及相关领域的科研人员具有重要的参考价值。